Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi
Akademik Veri Yönetim Sistemi
Arş.Gör. EMRE COŞKUN
Kişisel Bilgiler ve İletişim Bilgileri
Birim : Fen Edebiyat Fakültesi
Bölüm : Fizik
Ana Bilm Dalı : Katıhal Fiziği
Sabit Telefon : +90 286 2180018 | Dahili : 1933
E Posta Adresi : ecoskuncomu.edu.tr | ecoskuncomu.edu.tr
Web Adresi : http://aves.comu.edu.tr/ecoskun/
Ofis : L003
Eğitim Bilgileri
Post Doktora, ORTA DOĞU TEKNİK ÜNİVERSİTESİ, Fen Edebiyat Fakültesi, Fizik, 2012-2014
Doktora, ÇANAKKALE ONSEKİZ MART ÜNİVERSİTESİ, Fen Edebiyat Fakültesi, Fizik, 2005-2012
Yüksek Lisans, GEBZE YÜKSEK TEKNOLOJİ ENSTİTÜSÜ, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik, 2003-2005
Lisans, HACETTEPE ÜNİVERSİTESİ, Mühendislik Fakültesi, Fizik Mühendisliği, 1996-2003
Yaptığı Tezler
Doktora, "İnce filmlerin optik özelliklerinin integral dönüşüm yöntemleri ile incelenmesi", ÇANAKKALE ONSEKİZ MART ÜNİVERSİTESİ Fen Edebiyat Fakültesi Fizik Şubat, 2012.
Yüksek Lisans, "TlGaSe2 kristalinin ısıl uyarılmış akım yöntemi ile incelenmesi ", GEBZE YÜKSEK TEKNOLOJİ ENSTİTÜSÜ Fen Bilimleri Enstitüsü Fizik Ağustos, 2005.
Yabancı Diller
İngilizce, İyi
Araştırma Alanları
Yüzeyler ve arayüzeyler; İnce filmler ve nanosistemler
Optik özellikler, Yoğun madde spektroskopisi
Elektronik yapı, arayüzeylerin, ince filmlerin ve düşük boyutlu yapıların elektrik özellikleri
Web Of Science Araştırma Alanları
Physics, Condensed Matter
Akademik Ünvanlar ve Görevler
Arş.Gör.Dr., ÇANAKKALE ONSEKİZ MART ÜNİVERSİTESİ, Fen Edebiyat Fakültesi, 2005 - Devam Ediyor
SCI,SSCI,AHCI İndekslerine Giren Dergilerde Yayınlanan Makaleler
Kocahan Yilmaz Ö., Coşkun E., Tiryaki E., Özder S., "The zero order generalized Morse wavelet method to determine the refractive index and extinction coefficient dispersions of an absorbing film", THIN SOLID FILMS, vol.673, pp.72-77, 2019 (Link)
Kocahan Yilmaz Ö., Tiryaki E., Coşkun E., Özder S., "Determination of phase from the ridge of CWT using generalized Morse wavelet", Measurement Science & Technology, vol.29, pp.35203-35203, 2018 (Link)
Hosseini A., Güllü H.H., Coşkun E., Parlak M., Erçelebi A.Ç., "Fabrication and characterization of TiO2 thin film for device applications", Surface Review And Letters, pp.1850205-1850205, 2018 (Link)
Güllü H.H., Coşkun E., Parlak M., "Investigations of thermal annealing role on the optical properties of Zn-In-Se thin films", OPTIK, vol.144, pp.603-612, 2017 (Link)
Kocahan Yilmaz Ö., Özcan S., Coşkun E., Özder S., "The generalized Morse wavelet method to determine refractive index dispersion of dielectric films", MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY, vol.28, pp.45013-45013, 2017 (Link)
Kocahan Yilmaz Ö., Coşkun E., Özder S., "Generalized Morse wavelet for the determination of the birefringence of a liquid crystal cell", MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY, vol.26, pp.85204-85204, 2015 (Link)
Güllü H.H., Candan İ., Coşkun E., Parlak M., "Investigation of structural and optical parameters of Cu Ag In Se thin films deposited by thermal evaporation method", OPTIK, vol.126, pp.1578-1583, 2015 (Link)
Coşkun E., Güllü H.H., Candan İ., Bayrakli Ö., Parlak M., Erçelebi A.Ç., "Study on the Structural and Electrical Properties of Sequentially Deposited Ag Ga In Te Thin Films", JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS, vol.178, pp.162-173, 2015 (Link)
Coşkun E., Güllü H.H., Candan İ., Bayrakli Ö., Parlak M., Erçelebi A.Ç., "Device behavior of an In p Ag Ga In Te2 n Si Ag heterojunction diode", MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING, vol.34, pp.138-145, 2015 (Link)
Coşkun E., Güllü H.H., Candan İ., Bayrakli Ö., Parlak M., Erçelebi A.Ç., "Generalized Morse wavelets for the phase evaluation of projected fringe pattern", MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY, vol.25, pp.105701-105701, 2014 (Link)
Coşkun E., Güllü H.H., Candan İ., Bayrakli Ö., Parlak M., Erçelebi A.Ç., "Characterization of Co evaporated Cu Ag In Se Thin Films", BRAZILIAN JOURNAL OF PHYSICS, vol.44, pp.719-725, 2014 (Link)
Coşkun E., Güllü H.H., Candan İ., Bayrakli Ö., Parlak M., Erçelebi A.Ç., "The Paul wavelet algorithm an alternative approach to calculate the refractive index dispersion of a dielectric film from transmittance spectrum", APPLIED PHYSICS B-LASERS AND OPTICS, vol.113, pp.243-250, 2013 (Link)
Güllü H.H., Bayrakli Ö., Candan İ., Coşkun E., Parlak M., "Structural and optical properties of Zn In Te thin films deposited by thermal evaporation technique", JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS, vol.566, pp.83-89, 2013 (Link)
Güllü H.H., Bayrakli Ö., Candan İ., Coşkun E., Parlak M., "Determination of the refractive index of a dielectric film continuously by the generalized S transform", OPTICS LETTERS, vol.35, pp.841-843, 2010 (Link)
Coşkun E., Sel K., Özder S., Kurt M., "Refractive index and extinction coefficient determination of an absorbing thin film by using the continuous wavelet transform method", APPLIED OPTICS, vol.47, pp.4888-4894, 2008
Güllü H.H., Bayrakli Ö., Candan İ., Coşkun E., Parlak M., "The effect of thermal annealing on impurity states in ferroelectric semiconductor TlGaSe2 within the incommensurate phase", SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, vol.21, pp.171-174, 2006 (Link)
Diger Dergilerde Yayımlanan Makaleler
Coşkun E., Güllü H.H., Candan İ., Bayrakli Ö., Parlak M., Erçelebi A.Ç., "Device application of AgGa0 5In0 5Se2 thin films deposited by thermal sequential stacked layer method", Materials Research Express, vol.1, pp.46407-46407, 2014 (Link)
Hakemli Kongre/Sempozyum Bildiri Kitaplarında Yer Alan Yayınlar
Bozdoğan E., Coşkun E., Özder S., Güllü H.H., Parlak M., "Electrical Properties of ZnSe/Si Nanowire and ZnSe/Si Heterostructures", Turkish Physical Society 34th International Physics Congress (TFD-34), Muğla, TÜRKIYE,
Coşkun E., Güllü H.H., Parlak M., "n-ZnSe/p-Si Nanotel Heteroeklemlerin Foto-İletkenlik Davranışlarının İncelenmesi", 23. Yoğun Madde Fiziği Ankara Toplantısı, Ankara, TÜRKIYE,
Bozdoğan E., Coşkun E., Özder S., Kocahan Yilmaz Ö., "Production of silicon nanowire having different size by using metal assisted chemical etching method", Turkish Physical Society 33th International Physics Congress, ,
Coşkun E., Güllü H.H., Bayrakli Ö., Terlemezoğlu M., Parlak M., "Synthesis and Structural Characterization on the (Cu,Ag)GaTe2 Thin Films Deposited on Si Nanowires", European Materials Research Society-Spring Meeting 2017, ,
Bozdoğan E., Coşkun E., Özder S., Kocahan Yilmaz Ö., "Optical properties of slicon nanowires for different length fabricated by metal assisted chemical ethcing method", Turkish Physical Society 33th International Physics Congress, ,
Kocahan Yilmaz Ö., Tiryaki E., Durmuş Ç., Elmas M.N., Coşkun E., Özder S., "Quantitative phase imaging of red blood cell by diffraction phase microscopy", 2017 Computing and Electromagnetics International Workshop (CEM), Barcelona, Spain, ,
Kocahan Yilmaz Ö., Elmas M.N., Durmuş Ç., Coşkun E., Tiryaki E., Özder S., "Optical phase distribution evaluation by using zero order generalized Morse wavelet", Turkish Physical Society 32th International Physics Congress, ,
Tiryaki E., Kocahan Yilmaz Ö., Coşkun E., Elmas M.N., Özder S., "Determination of the Refractive Index of Dielectric Films from the Transmittance Spectrum by Using Morse Wavelet", Science and Applications of Thin Films, Conference & Exhibition SATF 2016, ,
Güllü H.H., Coşkun E., Bayrakli Ö., Parlak M., "Optical Behaviour of Sequantial Thermal Evaporation ZnInSe2 Thin Films", European Materials Research Society 2016, ,
Güllü H.H., Bayrakli Ö., Coşkun E., Parlak M., "Fabrication and Characterization of p CuInSe2 n Si Heterojuntion Diodes", 32nd European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, ,
Bayrakli Ö., Güllü H.H., Terlemezoğlu M., Parlak M., Coşkun E., "Characterization of CZTSe Thin Films for Solar Cell", 32nd European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, ,
Güllü H.H., Coşkun E., Bayrakli Ö., Parlak M., "Design and Device Application of Si Based Cu Ag Ga Te Thin Film Heterojunction", Science and Application of Thin Films, Conference and Exhibition, ,
Bayrakli Ö., Güllü H.H., Coşkun E., Parlak M., "Device characterization of Zn Sn Se ZTSe thin films for solar cell", European Materials Research Society 2016, ,
Özcan S., Kocahan Yilmaz Ö., Coşkun E., Özder S., "An Improved Method For Simultaneous Determination Of Refractive Index And Thickness Of Dielectric Films A Simulation Study", Science and Applications of Thin Films, Conference & Exhibition (SATF 2016), ,
Tiryaki E., Kocahan Yilmaz Ö., Coşkun E., Durmuş Ç., Özder S., "Theoretical Determination of the Refractive Index and Extinction Coefficient of an Absorbing Thin Film by Using Morse Wavelet", Science and Applications of Thin Films, Conference & Exhibition (SATF 2016), ,
Kocahan Yilmaz Ö., Durmuş Ç., Elmas M.N., Coşkun E., Tiryaki E., Özder S., "3D profile measurements of objects by using zero order generalized Morse wavelet", Turkish Physical Society 32th International Physics Congress, ,
Coşkun E., Çolakoğlu T., Güllü H.H., Bayrakli Ö., Parlak M., "Effect of nanowire length on device performance of n In2Se3 p Si heterojuntions", European Materials Research Society 2016, ,
Coşkun E., Güllü H.H., Çolakoğlu T., Bayrakli Ö., Parlak M., "Effect of Nanowire Length on Device Performance of n ZnSe p Si Nanowire Heretojunctions", 32nd European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, ,
Güllü H.H., Bayrakli Ö., Coşkun E., Parlak M., "Studies on Device Properties of n ZnSe p Si Heterojuntion Diode", European Materials Research Society 2016, ,
Tiryaki E., Coşkun E., Özder S., Kuş E., Kocahan Yilmaz Ö., Durmuş Ç., "Determination of the refractive index dispersion of dielectric film from reflectance spectrum by using Morlet wavelet", Turkish Physical Society 32th International Physics Congress, ,
Özcan S., Coşkun E., Özder S., Kocahan Yilmaz Ö., "An improved method for determination of refractive index of absorbing fılms a simulation study", Turkish Physical Society 32th International Physics Congress, ,
Coşkun E., Güllü H.H., Parlak M., "Device characterization of Cu Ag Ga Te thin films for photovoltaic applications", Materials Research Society 2016, ,
Tiryaki E., Coşkun E., Özder S., Bozdoğan E., Kocahan Yilmaz Ö., Elmas M.N., "A simulation study for determination of refractive index dispersion of dielectric film from reflectance spectrum by using Paul wavelet", Turkish Physical Society 32th International Physics Congress, ,
Güllü H.H., Coşkun E., Parlak M., "Investigation of Optical Parameters of Thermally Evaporated ZnSe Thin Films", Solar TR-3 3rd Turkish Solar Electricity Conference & Exhibition, ,
Özcan S., Coşkun E., Kocahan Yilmaz Ö., Özder S., "AN IMPROVED METHOD FOR THE DETERMINATION OF BIREFRINGENCE DISPERSION OF LIQUID CRYSTAL CELL A SIMULATION STUDY", 9th INTERNATIONAL PHYSICS CONFERENCEOF THE BALKAN PHYSICAL UNION, ,
Güllü H.H., Coşkun E., Bayrakli Ö., Parlak M., "Material and Device Characterization of Cu0 5Ag0 5InSe2 and ZnInSe2 Thin Films for Photovoltaic Applications", 2015 MRS Spring Meeting & Exhibit, ,
Bayrakli Ö., Güllü H.H., Coşkun E., Parlak M., "Fabrication and Characterization of p AgGaxIn1 xTe2 n ZnInSe2 Heterojunctions for Solar Cell Applications", 2015 MRS Spring Meeting & Exhibit, ,
Güllü H.H., Coşkun E., Bayrakli Ö., Parlak M., Erçelebi A.Ç., "Investigation of Electrical Properties of Cu Ag In Se Thin Films Deposited by Thermally Evaporation Method", EU PVSEC 2015 31st European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, ,
Hosseini A., Güllü H.H., Coşkun E., Turan R., Erçelebi A.Ç., "Fabrication and Characterization of TiO2Thin Films for Device Applications", E-MRS 2014, ,
Güllü H.H., Coşkun E., Parlak M., "Ag n Si p AGIS In Heteroeklem Yapısının Aygıt Özellikleri", 19. Yoğun madde Fiziği Ankara, Munich, Germany, TÜRKIYE,
Güllü H.H., Coşkun E., Parlak M., "PLAZMA DESTEKLİ KİMYASAL BUHAR BİRİKTİRME SİSTEMİ İLE BÜYÜTÜLEN HİDROJENLENMİŞ AMORF SİLİSYUM KARBÜR İNCE FİLMLERE RADYO FREKANSI GÜCÜ ETKİSİNİN X ISINI FOTOELEKTRON SPEKTROMETRESİ İLE İNCELENMESİ", MYOMAT 2009: I.ULUSAL METAL, YARIDLETKEN veOKSDT MATERYALLERDN ÜRETDMDNDEKULLANILAN SDSTEMLER ve ANALİZ TEKNİKLERİ KONGRESİ, TÜRKIYE,
Kocahan Yilmaz Ö., Coşkun E., Özder S., "Profile measurement of objects by using stockwell and continuous wavelet transforms", 2008 IEEE 16th Signal Processing, Communication and Applications Conference, Aydin, Turkey, ,
Güllü H.H., Coşkun E., Parlak M., "title S transform analysis of projected fringe patterns title", SPIE 2007, Munich, Germany, TÜRKIYE,
Güllü H.H., Coşkun E., Parlak M., "5CB nematik sivi kristalinin sinyal analiz yöntemleri ile çift kiriliminin belirlenmesi", 13. Yoğun madde Fiziği Ankara, Munich, Germany, TÜRKIYE,
Diğer Yayınlar
Bilimsel Hakemlikler
Optics Letters, Dergide Hakemlik, Mart 2010
Akademik Veri Yönetim Sistemi | All Rights Reserved | Abis Teknoloji © 2019
Çanakkale Onsekiz Mart Üniversitesi BAP Koordinasyon Birimi